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激光氣體分析儀技術(shù)基本原理

更新時(shí)間:2012-06-06      點(diǎn)擊次數(shù):2201

1.朗伯-比爾定律
        DLAS技術(shù)本質(zhì)上是一種光譜吸收技術(shù),通過(guò)分析激光被氣體的選擇性吸收來(lái)獲得氣體的濃度。它與傳統(tǒng)紅外光譜吸收技術(shù)的不同之處在于,半導(dǎo)體激光光譜寬度遠(yuǎn)小于氣體吸收譜線的展寬。因此,DLAS技術(shù)是一種高分辨率的光譜吸收技術(shù),半導(dǎo)體激光穿過(guò)被測(cè)氣體的光強(qiáng)衰減可用朗伯-比爾(Lambert-Beer)定律表述式中,IV,0和IV 分別表示頻率V的激光入射時(shí)和經(jīng)過(guò)壓力P,濃度X和光程L的氣體后的光強(qiáng);S(T)表示氣體吸收譜線的強(qiáng)度;線性函數(shù)g(v-v0)表征該吸收譜線的形狀。通常情況下氣體的吸收較小,可用式(4-2)來(lái)近似表達(dá)氣體的吸收。這些關(guān)系式表明氣體濃度越高,對(duì)光的衰減也越大。因此,可通過(guò)測(cè)量氣體對(duì)激光的衰減來(lái)測(cè)量氣體的濃度。
2.光譜線的線強(qiáng)
        氣體分子的吸收總是和分子內(nèi)部從低能態(tài)到高能態(tài)的能級(jí)躍遷相的。線強(qiáng)S(T)反映了躍遷過(guò)程中受激吸收、受激輻射和自發(fā)輻射之間強(qiáng)度的凈效果,是吸收光譜譜線zui基本的屬性,由能級(jí)間躍遷概率經(jīng)及處于上下能級(jí)的分子數(shù)目決定。分子在不同能級(jí)之間的分布受溫度的影響,因此光譜線的線強(qiáng)也與溫度相關(guān)。如果知道參考線強(qiáng)S(T0),其他溫度下的線強(qiáng)可以由下式求出式中,Q(T)為分子的配分函數(shù);h為普朗克常數(shù);c為光速;k為波爾茲曼常數(shù);En為下能級(jí)能量。各種氣體的吸收譜線的線強(qiáng)S(T0)可以查閱相關(guān)的光譜數(shù)據(jù)庫(kù)。

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